Avec les pilotes LabVIEW, les modules d'E/S ultra-compacts TBEN-S de Turck créent de nouvelles opportunités pour une automatisation efficace des bancs d'essai
Pilotes LabVIEW pour modules E/S de bloc en IP67
24/19 – Les nouveaux pilotes font des blocs d'E/S compacts de Turck l'alternative robuste à l'automatisation des bancs d'essais avec des modules IP67 - sans avoir besoin d'un API directement sur le terrain
Mülheim, november 13, 2019Les pilotes LabVIEW pour les modules d'E/S compacts TBEN-S de Turck sont maintenant disponibles en téléchargement sur le site Web des pilotes LabVIEW de National Instruments. Avec les nouveaux pilotes, les utilisateurs peuvent réduire considérablement le coût de l'automatisation des bancs d'essai dans la fabrication. Les modules blocs d'E/S robustes TBEN-S2-2RFID-4DXP, TBEN-S2-4AO, TBEN-S2-4AI et TBEN-S1-8DXP peuvent remplacer les systèmes d'E/S courants et coûteux pour l'automatisation des bancs d'essai dans de nombreuses applications. Il n'est plus nécessaire de disposer d'un automate séparé pour commander les modules. Grâce à leur indice de protection IP67 élevé, les modules peuvent être installés directement sur le terrain sans armoire électrique.
Les pilotes LabVIEW ont été développés dans le cadre d'un projet client par des spécialistes de Kirschenhofer Maschinen GmbH en étroite collaboration avec Turck. Le portefeuille de l'entreprise s'étend de la construction de machines et d'installations et du développement de logiciels à l'intégration de systèmes et à l'automatisation de bancs d'essai.
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